Model: Nanosurf NaioAFM
Çalışma Prensibi: Atomik Kuvvet Mikroskopisi (AFM)
Tarama Alanı: Maks. 100 µm × 100 µm (XY), Z aralığı: ~10 µm
Dikey (Z) Çözünürlük: < 0.3 nm
Yatay (XY) Çözünürlük: < 1 nm
Çalışma Modları:
Desteklenen Ölçüm ve Analizler:
-
3B yüzey topografyası
-
Yüzey pürüzlülüğü (Ra, Rq vb.) analizi
-
Film/tabaka kalınlığı ölçümleri
-
Kesit (profil) analizi
-
Elektrostatik ve manyetik kuvvet görüntüleme (uygun problar ile)
Görüntüleme ve Kontrol Sistemi:
Dahili kontrol ünitesi, titreşim izolasyon altyapısı ve yüksek çözünürlüklü kamera sistemi
Atomik Kuvvet Mikroskopisi (AFM) Yöntemi
Atomik Kuvvet Mikroskopisi (AFM), numune yüzeyi ile çok keskin bir prob ucu arasındaki atomik ölçekli kuvvet etkileşimlerinin algılanması esasına dayanan bir yüzey karakterizasyon yöntemidir. Prob ucunun yüzey üzerinde taranması sırasında oluşan sapmalar, lazer-fotodiyot sistemi ile algılanarak nano ve atomik ölçekli yüzey topografyası elde edilir.
AFM yöntemi; iletken veya yalıtkan tüm malzemelerin ön hazırlık gerektirmeden, yüksek çözünürlükte incelenmesine olanak sağlar. Analiz sırasında numune tahrip edilmez ve çok küçük alanlar üzerinde lokal ölçümler yapılabilir. Elde edilen veriler sayesinde yüzey pürüzlülüğü, morfoloji, tabaka kalınlığı ve lokal fiziksel özellikler nicel olarak değerlendirilebilmektedir.
