Rigaku Geigerflex, katı hal fiziği, kristalografi ve malzeme karakterizasyonu çalışmalarında; toz numunelerin, bulk (hacimsel) malzemelerin ve silikon alttaşlar üzerine kaplanmış ince filmlerin kristal yapı analizini gerçekleştirmek amacıyla kullanılan klasik ve güçlü bir X-ışını difraksiyon sistemidir. Malzemeye gönderilen karakteristik X-ışınlarının kristal düzlemlerinden Bragg Yasası'na (2dsinθ = nλ) göre kırınması esasına dayanan cihaz; elde edilen kırınım desenleri (difraktogram) üzerinden kristal fazların tanımlanması, örgü parametrelerinin (lattice constants) hesaplanması, kristalit boyutu, kütle faz oranları ve kristal kafes gerinimlerinin (lattice strain) yüksek hassasiyetle belirlenmesini sağlayarak malzemelerin atomik düzeydeki yapısal özelliklerini haritalandırır.
