X-ışını kaynağı: Cu K (1.54 Angstrom dalga boyu)
Detektör: Pixcel 1D
Numune tutucular: 15 mm x 20 mm x 1.8 mm boyutlarında Alüminyum ve 1 mg numunelerden az toz numuneler için tek kristal silikon tutucu
Ölçüm aralığı: 5-140° Çalışma parametreleri: 45 kV ve 40 mA
X-Işını Kırınım yöntemi (XRD), her bir kristal düzenine sahip malzemenin kendine özgü atomik dizilimlerine bağlı olarak, X-ışınlarını karakteristik bir düzen içerisinde kırması esasına dayanır. Her bir kristal ya da faz için bu kırınım desenleri bir nevi parmak izi gibi o kristali tanımlar. Bu teknikte incelenecek olan toz numune 25 mikron tane boyutuna gelene kadar öğütülerek toz hale getirilmekte ve XRD analiz cihazları ile analiz edilmektedir. X-Işını Kırınım analiz metodu, analiz sırasında numuneyi tahrip etmez ve çok az miktardaki numunelerin dahi analizlerinin yapılmasını sağlar. Elde edilen X-ışını difraktogramları High Score Plus programındaki veri tabanları kullanılarak gerekli pik düzeltmeleri (Rietveld Refinement) yapılmakta ve standart sapma oranları ile birlikte minerallerin % oranları verilmektedir.
